Product Specification 108-5246
Rev. L 7 of 21
項目 試験項目 規 格 試 験 方 法
Para. Test Items Requirements Procedures
3.5.14 コネクタ挿入力、引抜力 Fig.4,Fig.5 参照 ンタクト・アセンブリを毎分
20mmの速度で30回挿入、引抜す
る。この時の挿入力及び引抜力を
測定する。
3.5.14 Mating /Unmating Force Fig.4, Fig.5 Measure the mating force and
the unmating force when
receptacle assembly and post
header assembly are mated and
unmated for 30 cycles at a rate
of 20 mm a minute.
3.5.15 耐久性
(繰り返し挿抜)
総合抵抗(ローレベル):
20 mΩ 最大(試験後)
コネクタアセンブリを30サイク
ル挿入・引抜を繰り返す。.
3.5.15 Durability
(Repeated Mate / Unmating)
Termination resistance
(low level)(Final)
20 mΩ Max.
Mate and unmate connectors for
30 cycles.
3.5.16 振動
正弦波
低周波
振動中 1 μsec. を越える不
続導通を生じないこと。
総合抵抗(ローレベル):
20 mΩ 最大(試験後)
嵌合したコネクタに 1.52 mm の
振幅で、10-55-10 Hz に毎分 1
イクルの割合で変化する掃引振
動を直交する三方向軸に 2 時間
ずつ与えること
MIL-STD-202、試験法201
尚、嵌合後のコネクタはFig.7に
示す様に固定して行う。
3.5.16 Vibration
Sinusoidal
Low Frequency
No electrical discontinuity
greater than 1 μsec. shall
occur.
Termination resistance
(low level)(Final)
20 mΩ Max.
Subject mated connectors to
10-55-10 Hz traversed in 1
minute at 1.52 mm amplitude 2
hours each of 3 mutually
perpendicular planes.
MIL-STD-202,METHOD 201
The clamping manner shall be in
accordance with Fig. 7
, after
mating the connectors.
Fig.2 (続き)
Fig.2(To be continued)
Product Specification 108-5246
Rev. L 8 of 21
項目 試験項目 規 格 試 験 方 法
Para. Test Items Requirements Procedures
3.5.17 微加振動
(ハンマー衝撃)
加振中 1μsecをこえる不連続
導通を生じないこと。
総合抵抗(ローレベル):
20 mΩ 最大(試験後)
嵌合したコネクタをFig.8に示す
条件で10000回加振し、Fig.9に示
す測定回路により印加電圧 DC
10V,1mAの試験電流を通電させた
状態で試験を行い、加振中の抵抗
の変動をモニターする。
尚、嵌合後のコネクタはFig.7に
示す様に固定して行う。
3.5.17 Hammerring Shocks No electrical discontinuity
greater than 1μsec.shall
occur.
Termination resistance
(low level)(Final)
20 mΩ Max.
S
ubject mated connectors on PCB
as shown in Fig.7,
Under 10000
cycles of repeated hammering
shocks of the condition as
shown in Fig.8,with the test
current of 1mA at 10VDC applied
to the circuit as shown in
Fig.9.During the test, the
circuit shall be monitor
ed for
fluctuation of electrical
resistance.
The clamping manner shall be in
accordance with Fig.7 after
mating the connectors.
3.5.18 衝撃 衝撃により1 μsec. を越える
不連続導通を生じないこと。
総合抵抗(ローレベル):
20 mΩ 最大(試験後)
嵌合したコネクタに11m秒間に
50Gの正弦波を生じるような衝撃
を直交する三方向軸の正負方向
に3回まで合計18回与えること
MIL-STD-202、験法213,条件A
尚、嵌合後のコネクタはFig.7に
示す様に固定して行う。
Fig.2 (続き)
Fig.2(To be continued)
Product Specification 108-5246
Rev. L 9 of 21
項目 試験項目 規 格 試 験 方 法
Para. Test Items Requirements Procedures
3.5.18 Physical Shock
No electrical discontinuity
greater than 1μsec. shall
occur.
Termination resistance
(low level)(Final)
20 mΩ Max.
Subject mated connectors to 50 G
s
half sine shock pulses of 16
millisec
ond duration, 3 shocks in
each direction applied along the
3 mutually perpendicular planes
to totally 18 shocks.
MIL-STD-202,METHOD 213
Condition A
The clamping manner shall be in
accordance with Fig.7 after
mating the connectors.
3.5.19 はんだ付け性 試品を10倍の拡大鏡を用い
て目視検査し、ピンホールまた
は空隙が1つの面積に集中し
たり、全体の面積の5%を越え
ないこと。
はんだ濡れは95 % 以上。
はんだ温度 :240 ± 5 °C
はんだ浸漬時間:3 ± 0.5 秒
使用フラックス:アルファー 100
(非活性ロジンベース)
はんだ(Sn-3.0Ag-0.5Cu)
3.5.19 Solderability
Appearance of the specimen
shall be inspected after the
test wi
th the assistance of a
magnifier capable of giving a
magnification of 10 X . More
than 95% of the tested area of
the contact shall appear
sufficiently working fresh
coverage of wet solder,
without concentration of void
area in one place or whose
total area
is not greater than
5% of the tested area.
The soldering tine areas of the
contacts in post header assembly and
receptacle header assembly shall be
tested by immersing in flux.(Alpha
100, non-active rosin base) for 3 to
5 seconds first, then immerse into
soldering tub filled with melted
Sn-3.0Ag-0.5Cu controlled at 240 ±
5
°
C for
3±0.5 seconds
Fig.2 (続き)
Fig.2(To be continued)

5-176491-6

Mfr. #:
Manufacturer:
TE Connectivity
Description:
Board to Board & Mezzanine Connectors 1.25FP R26 DS B N TR
Lifecycle:
New from this manufacturer.
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